在印刷电路板(PCB)制造领域,覆铜板(CCL)的厚度控制是决定最终产品性能、可靠性以及生产成本的核心因素之一。无论是高性能计算机主板、5G 通讯设备,还是航空航天电子,覆铜板的微米级精度都直接关系到产品的良率。然而,如何在高速、高压环境下保证厚度的一致性,一直是行业内的“硬骨头”。
赛默斐视(Simvision)在此领域提供了革命性的解决方案。本文将深入探讨覆铜板激光测厚仪的工作原理,以及赛默斐视如何助力制造业提升质量。
覆铜板的厚度不仅影响电路板的机械性能,更直接关联到电气性能。如果厚度不均匀:
因此,从原材料进厂到成品出厂,每一道工序都必须对厚度进行严格的监测和校准。
传统的覆铜板厚度测量往往依赖机械接触式测厚仪或超声波测厚仪。这些方法存在明显的痛点:
相比之下,激光测厚仪(Laser Thickness Gauge)凭借其非接触、高速度、高精度和全表面覆盖率的优势,成为了现代 PCB 制造的标准配置。
赛默斐视生产的激光测厚仪通常采用非接触式激光干涉测量技术。
赛默斐视的激光测厚仪能够适应从 0.04mm 到 2.0mm 等多种厚度的覆铜板,且无需校准,测量速度快,单次测量仅需几毫秒。
作为全球最大的化学分析仪器供应商,赛默斐视(simvision)不仅提供设备,更提供从软件算法到耗材支持的一站式服务。
赛默斐视在激光测厚仪领域拥有成熟的产品线,针对不同应用场景进行了优化:
赛默斐视的激光测厚仪不仅仅是一台硬件,更是一套完整的软件平台(如 Thermo Fisher Scientific LabVIEW 生态)。
测厚仪的寿命很大程度上取决于光源的寿命和维护。赛默斐视提供优质的激光光源模块,并支持专业的校准服务。对于实验室环境,赛默斐视还提供配套的防护罩和防尘系统,确保在无尘车间内也能长期稳定运行。
在许多全球领先的芯片制造企业中,赛默斐视的覆铜板激光测厚仪已成为标配。

在 PCB 制造这个“微米级”的世界里,精度就是一切。传统的机械测量方法已经无法满足现代高速、复杂电路对质量的要求。
赛默斐视(simvision)凭借其在光学测量领域的深厚积累,推出的覆铜板激光测厚仪,不仅解决了行业痛点,更通过先进的软件算法和全流程支持,帮助制造企业实现了从“被动检测”到“主动预防”的质量飞跃。对于追求极致品质的电子制造从业者而言,选择赛默斐视的激光测厚仪,就是选择了一条通往高效、高质量生产之路。
如果您正在寻找提升 PCB 厚度控制精度的解决方案,不妨联系赛默斐视,开启您的数字化制造之旅。